Rotational positioner and methods for semiconductor wafer test systems

WO2008091550 Art A1 31. Juli 2008

Anmelder: Teradyne, Inc. 🇺🇸

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2008091550
Aktenzeichen: EP08724635
Anmeldetag: 18. Januar 2008
Veröffentlichung: 31. Juli 2008
Rechtsraum: WO
IPC: G01R31/28G01R1/073G01R1/04

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Teradyne, Inc.
Land: 🇺🇸 USA

🇺🇸 Teradyne

Teradyne ist ein US-amerikanischer Hersteller von Testsystemen für Halbleiter und Elektronik mit Sitz in Massachusetts. Das Patentportfolio konzentriert sich stark auf Mess- und Prüftechnik, ergänzt durch Elektronik-, Software- und Halbleitertechnik. Anmeldungen reichen von 2000 bis in die Gegenwart.

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Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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