Amplification Control Device, Test Signal Generation Module, Test Device, Amplification Control Method, Program, Recording Medium

WO2008096653 Art A1 14. August 2008

Anmelder: Advantest Corporation 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2008096653
Aktenzeichen: EP08704221
Anmeldetag: 24. Januar 2008
Veröffentlichung: 14. August 2008
Rechtsraum: WO
IPC: H03G3/20G01R31/28H03G3/30H03G5/16

Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma: Advantest Corporation
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Advantest

Japanisches Unternehmen mit Sitz in Tokio, Hersteller von Testsystemen für Halbleiter und elektronische Bauteile.

610 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Elektronik & Schaltungstechnik Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

Vertreten von

Kein Vertreter erfasst.

Noch Fragen?

Wir helfen Ihnen gerne weiter. Schreiben Sie uns einfach.

Kontakt aufnehmen