Method and apparatus for determining reflectance data of a subject

WO2008100409 Art A2 21. August 2008

Anmelder: NEW YORK UNIVERSITY 🇺🇸

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2008100409
Aktenzeichen: EP08725278
Anmeldetag: 7. Februar 2008
Veröffentlichung: 21. August 2008
Rechtsraum: WO
IPC: G01N21/47

Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma: NEW YORK UNIVERSITY
Land: 🇺🇸 USA

🇺🇸 New York University

New York University ist eine private US-Universität mit Sitz in New York City. Das Patentportfolio konzentriert sich auf Medizintechnik und Gesundheit sowie organische Chemie und Pharma, dazu kommen Mess-, Prüf- und Software-Themen aus der angewandten Forschung. Anmeldungen sind von 2000 bis in die Gegenwart belegt.

902 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

Vertreten von