A method for quantifying defects in a transparent substrate

WO2008106015 Art A2 4. September 2008

Anmelder: Corning Incorporated 🇺🇸

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2008106015
Aktenzeichen: EP08725535
Anmeldetag: 13. Februar 2008
Veröffentlichung: 4. September 2008
Rechtsraum: WO
IPC: G01N21/00

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Corning Incorporated
Land: 🇺🇸 USA

🇺🇸 Corning

US-amerikanischer Technologiekonzern mit Sitz in Corning, New York. Corning ist spezialisiert auf Spezialglas, Keramik und optische Fasern für Displays, Telekommunikation, Automobiltechnik, Life Sciences und Umwelttechnik.

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Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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