Test method for non-boundary scan digital device

WO2008106826 Art A1 12. September 2008

Anmelder: ZTE Corporation 🇨🇳

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2008106826
Aktenzeichen: EP07711066
Anmeldetag: 8. März 2007
Veröffentlichung: 12. September 2008
Rechtsraum: WO
IPC: G06F11/22

Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma: ZTE Corporation
Land: 🇨🇳 China

🇨🇳 ZTE

Chinesisches Unternehmen der Telekommunikations- und Informationstechnik mit Sitz in Shenzhen. Entwickelt Netzwerkausrüstung, Mobilfunktechnik und Endgeräte für Telekommunikationsanbieter.

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Fachgebiete

Software & Datenverarbeitung

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