Surface inspecting method and device

WO2008108041 Art A1 12. September 2008

Anmelder: Kabushiki Kaisha TOPCON 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2008108041
Aktenzeichen: EP07850318
Anmeldetag: 4. Dezember 2007
Veröffentlichung: 12. September 2008
Rechtsraum: WO
IPC: H01L21/66G01N21/956

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Kabushiki Kaisha TOPCON
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Kabushiki Kaisha Topcon

Topcon ist ein japanischer Hersteller von Mess-, Vermessungs- und ophthalmologischen Geräten sowie Positionierungstechnik. Das Patentportfolio konzentriert sich auf Mess-, Prüf- und Zeitmesstechnik sowie Medizintechnik und Gesundheit, ergänzt durch Software und Optik. Anmeldungen erstrecken sich von 2000 bis 2017.

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Fachgebiete

Halbleiter & Elektrische Bauelemente Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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