Scanning probe microscope and method of observing sample using the same
WO2008111390
Art A1
18. September 2008
Anmelder: Hitachi, Ltd. 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2008111390
- Aktenzeichen
- EP08711983
- Anmeldetag
- 26. Februar 2008
- Veröffentlichung
- 18. September 2008
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G01N13/14G01B11/30G01N13/10
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Hitachi, Ltd.
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Hitachi
Japanischer Konzern, der Technik für Energie, Bahn, Industrieanlagen, Informationstechnik und Haushaltsgeräte entwickelt und herstellt.
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