Tester and electronic device

WO2008114654 Art A1 25. September 2008

Anmelder: Advantest Corporation 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.
WO2008114654
Aktenzeichen
EP08721823
Anmeldetag
11. März 2008
Veröffentlichung
25. September 2008
Rechtsraum
WO
IPC
G01R31/3183G01R31/28H04L29/14
Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma
Advantest Corporation
Land
🇯🇵 Japan
🇯🇵 Advantest

Japanisches Unternehmen mit Sitz in Tokio, Hersteller von Testsystemen für Halbleiter und elektronische Bauteile.

610 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Nachrichtentechnik & Telekommunikation

Vertreten von

Kein Vertreter erfasst.

Noch Fragen?

Wir helfen Ihnen gerne weiter. Schreiben Sie uns einfach.

Kontakt aufnehmen