Testing apparatus and electronic device

WO2008114670 Art A1 25. September 2008

Anmelder: Advantest Corporation 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2008114670
Aktenzeichen: EP08721957
Anmeldetag: 12. März 2008
Veröffentlichung: 25. September 2008
Rechtsraum: WO
IPC: G01R31/3183G01R31/28H04L29/14

Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma: Advantest Corporation
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Advantest

Japanisches Unternehmen mit Sitz in Tokio, Hersteller von Testsystemen für Halbleiter und elektronische Bauteile.

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Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Nachrichtentechnik & Telekommunikation

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