Testing apparatus and measuring circuit
WO2008114699
Art A1
25. September 2008
Anmelder: Advantest Corporation 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2008114699
- Aktenzeichen
- EP08722065
- Anmeldetag
- 13. März 2008
- Veröffentlichung
- 25. September 2008
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G01R31/319
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Advantest Corporation
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Advantest
Japanisches Unternehmen mit Sitz in Tokio, Hersteller von Testsystemen für Halbleiter und elektronische Bauteile.
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Fachgebiete
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