Measuring apparatus, measuring method, testing apparatus, electronic device and program

WO2008114700 Art A1 25. September 2008

Anmelder: Advantest Corporation 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2008114700
Aktenzeichen: EP08722066
Anmeldetag: 13. März 2008
Veröffentlichung: 25. September 2008
Rechtsraum: WO
IPC: G01R29/02H03M1/10

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Advantest Corporation
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Advantest

Japanisches Unternehmen mit Sitz in Tokio, Hersteller von Testsystemen für Halbleiter und elektronische Bauteile.

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Fachgebiete

Elektronik & Schaltungstechnik Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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