Tester and electronic device

WO2008114701 Art A1 25. September 2008

Anmelder: Advantest Corporation 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.
WO2008114701
Aktenzeichen
EP08738658
Anmeldetag
13. März 2008
Veröffentlichung
25. September 2008
Rechtsraum
WO
IPC
G01R31/3183G01R31/28H04L29/14
Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma
Advantest Corporation
Land
🇯🇵 Japan
🇯🇵 Advantest

Japanisches Unternehmen mit Sitz in Tokio, Hersteller von Testsystemen für Halbleiter und elektronische Bauteile.

610 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Nachrichtentechnik & Telekommunikation

Vertreten von

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