Electronic apparatus test device and electronic apparatus test box

WO2008117499 Art A1 2. Oktober 2008

Anmelder: Nippon Light Metal, Co., Ltd. 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.
WO2008117499
Aktenzeichen
EP07850475
Anmeldetag
12. Dezember 2007
Veröffentlichung
2. Oktober 2008
Rechtsraum
WO
IPC
G01R31/00G01R29/10H05K9/00
Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma
Nippon Light Metal, Co., Ltd.
Land
🇯🇵 Japan
🇯🇵 Nippon Light Metal

Nippon Light Metal ist ein japanischer Hersteller von Aluminiumprodukten. Das Patentportfolio konzentriert sich auf Werkzeug-, Fertigungs- und Drucktechnik sowie Metallurgie und Oberflächentechnik, ergänzt um Halbleiterbauelemente. Anmeldungen sind seit 2000 dokumentiert.

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