Conformation analyzing device and method

WO2008117570 Art A1 2. Oktober 2008

Anmelder: National Institute of Advanced Industrial Science and Technology 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2008117570
Aktenzeichen: EP08710705
Anmeldetag: 1. Februar 2008
Veröffentlichung: 2. Oktober 2008
Rechtsraum: WO
IPC: G01N21/19

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: National Institute of Advanced Industrial Science and Technology
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 National Institute of Advanced Industrial Science and Technology

Staatliches japanisches Forschungsinstitut (AIST), das breit angelegte angewandte Forschung in Bereichen wie Materialwissenschaft, Energie, Elektronik und Biotechnologie betreibt.

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Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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