Hardmask composition having antireflective property and method of patterning materials using the same
WO2008120855
Art A1
9. Oktober 2008
Anmelder: Cheil Industries INC. 🇰🇷
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2008120855
- Aktenzeichen
- EP07860833
- Anmeldetag
- 31. Dezember 2007
- Veröffentlichung
- 9. Oktober 2008
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- C08G61/12
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Cheil Industries INC.
- Land
- 🇰🇷 Südkorea
🇰🇷
Cheil Industries Inc.
Ehemaliges südkoreanisches Chemie- und Materialunternehmen der Samsung-Gruppe, 2015 in Samsung C&T Corporation aufgegangen und heute nicht mehr eigenständig tätig.
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