Methods of forming improved epi fill on narrow isolation bounded source/drain regions and structures formed thereby

WO2008121855 Art A1 9. Oktober 2008

Anmelder: Intel Corporation 🇺🇸

Details

Veröffentlichungs-Nr.
WO2008121855
Aktenzeichen
EP08744651
Anmeldetag
28. März 2008
Veröffentlichung
9. Oktober 2008
Rechtsraum
WO
IPC
H01L21/336H01L29/78
Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma
Intel Corporation
Land
🇺🇸 USA
🇺🇸 Intel

US-amerikanischer Halbleiterhersteller mit Sitz in Kalifornien. Entwickelt und produziert Prozessoren, Chipsätze sowie weitere Halbleiterkomponenten für Computer, Server und eingebettete Systeme.

26.631 Patente in unserer Datenbank

Vertreten von

Kein Vertreter erfasst.

Noch Fragen?

Wir helfen Ihnen gerne weiter. Schreiben Sie uns einfach.

Kontakt aufnehmen