Testing apparatus and electronic device

WO2008123156 Art A1 16. Oktober 2008

Anmelder: Advantest Corporation 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2008123156
Aktenzeichen: EP08738714
Anmeldetag: 21. März 2008
Veröffentlichung: 16. Oktober 2008
Rechtsraum: WO
IPC: G01R31/28H01L21/822H01L27/04

Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma: Advantest Corporation
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Advantest

Japanisches Unternehmen mit Sitz in Tokio, Hersteller von Testsystemen für Halbleiter und elektronische Bauteile.

610 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Halbleiter & Elektrische Bauelemente Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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