Silicon nitride film and nonvolatile semiconductor memory device
WO2008123289
Art A1
16. Oktober 2008
Anmelder: Tokyo Electron Limited, Hiroshima University 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2008123289
- Aktenzeichen
- EP08722844
- Anmeldetag
- 26. März 2008
- Veröffentlichung
- 16. Oktober 2008
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- H01L21/8247H01L21/31H01L21/318H01L27/115H01L29/788H01L29/792
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firmen
- Tokyo Electron Limited
Hiroshima University - Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Tokyo Electron
Japanisches Technologieunternehmen mit Sitz in Tokio, einer der weltweit größten Hersteller von Halbleiterfertigungsanlagen. Aktiv in Beschichtungs-, Ätz- und Reinigungssystemen für die Chip- und Displayproduktion.
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