Demodulation device, test device, and electronic device

WO2008123470 Art A1 16. Oktober 2008

Anmelder: Advantest Corporation 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2008123470
Aktenzeichen: EP08739356
Anmeldetag: 28. März 2008
Veröffentlichung: 16. Oktober 2008
Rechtsraum: WO
IPC: H03D3/00G01R31/28H03L7/08H03L7/087H03L7/093H04L7/033

Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma: Advantest Corporation
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Advantest

Japanisches Unternehmen mit Sitz in Tokio, Hersteller von Testsystemen für Halbleiter und elektronische Bauteile.

610 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Elektronik & Schaltungstechnik Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Nachrichtentechnik & Telekommunikation

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