Analogschaltungstest und Erzeugung eines Testmusters
WO2008125998
Art A1
23. Oktober 2008
Anmelder: NXP B.V. 🇳🇱
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2008125998
- Aktenzeichen
- EP08737704
- Anmeldetag
- 3. April 2008
- Veröffentlichung
- 23. Oktober 2008
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G01R31/3183
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- NXP B.V.
- Land
- 🇳🇱 Niederlande
🇳🇱
NXP Semiconductors
Niederländischer Halbleiterhersteller mit Sitz in Eindhoven. Entwickelt Chips und Halbleiterlösungen für Automobiltechnik, Kommunikation, Sicherheit sowie industrielle Anwendungen.
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