Testing apparatus and testing method

WO2008133238 Art A1 6. November 2008

Anmelder: Advantest Corporation 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2008133238
Aktenzeichen: EP08751900
Anmeldetag: 21. April 2008
Veröffentlichung: 6. November 2008
Rechtsraum: WO
IPC: G01R31/3183G01R29/02H03K5/156

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Advantest Corporation
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Advantest

Japanisches Unternehmen mit Sitz in Tokio, Hersteller von Testsystemen für Halbleiter und elektronische Bauteile.

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Fachgebiete

Elektronik & Schaltungstechnik Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

Vertreten von

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