Method and device for measuring nano particle

WO2008136101 Art A1 13. November 2008

Anmelder: Shimadzu Corporation 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2008136101
Aktenzeichen: EP07742355
Anmeldetag: 25. April 2007
Veröffentlichung: 13. November 2008
Rechtsraum: WO
IPC: G01N15/02G01B11/08G01N21/47

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Shimadzu Corporation
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Shimadzu

Japanisches Technologieunternehmen mit Sitz in Kyoto. Shimadzu entwickelt Analyse- und Messgeräte, medizinische Bildgebungssysteme sowie Komponenten für Luft- und Raumfahrt, Industrie und Wissenschaft.

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Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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