Semiconductor device manufacturing method and semiconductor device
WO2008139897
Art A1
20. November 2008
Anmelder: Rohm Co., Ltd. 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2008139897
- Aktenzeichen
- EP08740887
- Anmeldetag
- 25. April 2008
- Veröffentlichung
- 20. November 2008
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- H01L29/78H01L21/28H01L21/768H01L29/423H01L29/49
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Rohm Co., Ltd.
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Rohm
Japanischer Halbleiterhersteller mit Sitz in Kyoto, spezialisiert auf integrierte Schaltkreise, diskrete Halbleiterbauelemente und Leistungshalbleiter (unter anderem Siliziumkarbid-Bauteile).
2.771 Patente in unserer Datenbank
Fachgebiete
Vertreten von
Kein Vertreter erfasst.