Optical metrology method for measuring the outline of a manufactured part

WO2008142166 Art A1 27. November 2008

Anmelder: Commissariat à l'Energie Atomique 🇫🇷

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2008142166
Aktenzeichen: EP08759986
Anmeldetag: 23. Mai 2008
Veröffentlichung: 27. November 2008
Rechtsraum: WO
IPC: G01B11/24G06T17/30G06T17/40G06T7/00

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Commissariat à l'Energie Atomique
Land: 🇫🇷 Frankreich

🇫🇷 Commissariat à l'Énergie Atomique et aux Énergies Alternatives

Die Commissariat à l'Énergie Atomique et aux Énergies Alternatives (CEA) ist eine französische staatliche Forschungseinrichtung mit Schwerpunkt Kernenergie, alternative Energien und Grundlagenforschung. Das Patentportfolio konzentriert sich auf Halbleiter und elektrische Bauelemente sowie Mess- und Prüftechnik, ergänzt durch Software, Energietechnik und Werkstoffkunde. Anmeldungen sind seit 2000 durchgehend belegt.

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Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Software & Datenverarbeitung

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