Testing device

WO2008142743 Art A1 27. November 2008

Anmelder: Advantest Corporation 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.
WO2008142743
Aktenzeichen
EP07742420
Anmeldetag
25. April 2007
Veröffentlichung
27. November 2008
Rechtsraum
WO
IPC
G01R31/28G11C29/56
Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma
Advantest Corporation
Land
🇯🇵 Japan
🇯🇵 Advantest

Japanisches Unternehmen mit Sitz in Tokio, Hersteller von Testsystemen für Halbleiter und elektronische Bauteile.

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