Component carrier device, electronic component testing device, and method for recognizing optimal distance in component carrier device
WO2008142744
Art A1
27. November 2008
Anmelder: Advantest Corporation 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2008142744
- Aktenzeichen
- EP07743030
- Anmeldetag
- 9. Mai 2007
- Veröffentlichung
- 27. November 2008
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- B65G47/91H05K13/04
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Advantest Corporation
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Advantest
Japanisches Unternehmen mit Sitz in Tokio, Hersteller von Testsystemen für Halbleiter und elektronische Bauteile.
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Vertreten von
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