Measuring apparatus and measuring method

WO2008142840 Art A1 27. November 2008

Anmelder: Keio University 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2008142840
Aktenzeichen: EP08763885
Anmeldetag: 9. Mai 2008
Veröffentlichung: 27. November 2008
Rechtsraum: WO
IPC: G01N24/08G01R33/32H01M8/04H01M8/10

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Keio University
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Keio University

Die Keio University ist eine private Universität in Tokio, Japan, die in zahlreichen Fachrichtungen von Wirtschaft bis Ingenieurwissenschaften lehrt und forscht.

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Fachgebiete

Halbleiter & Elektrische Bauelemente Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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