Methods and apparatus to measure a transfer function of a control system

WO2008144612 Art A2 27. November 2008

Anmelder: Texas Instruments Incorporated 🇺🇸

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2008144612
Aktenzeichen: EP08795852
Anmeldetag: 19. Mai 2008
Veröffentlichung: 27. November 2008
Rechtsraum: WO
IPC: G06F1/26

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Texas Instruments Incorporated
Land: 🇺🇸 USA

🇺🇸 Texas Instruments

US-amerikanisches Halbleiterunternehmen mit Sitz in Dallas (Texas). Entwickelt und fertigt analoge und eingebettete Halbleiterprodukte, Prozessoren sowie Schaltkreise für Industrie, Automobil- und Konsumelektronik.

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Fachgebiete

Software & Datenverarbeitung

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