Testable Integrated Circuit die And Integrated Circuit Package

WO2008149287 Art A1 11. Dezember 2008

Anmelder: NXP B.V. 🇳🇱

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2008149287
Aktenzeichen: EP08763171
Anmeldetag: 3. Juni 2008
Veröffentlichung: 11. Dezember 2008
Rechtsraum: WO
IPC: G01R31/3185G01R31/319G01R31/3183

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: NXP B.V.
Land: 🇳🇱 Niederlande

🇳🇱 NXP Semiconductors

Niederländischer Halbleiterhersteller mit Sitz in Eindhoven. Entwickelt Chips und Halbleiterlösungen für Automobiltechnik, Kommunikation, Sicherheit sowie industrielle Anwendungen.

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Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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