Mental fatigue detecting method and device

WO2008149616 Art A1 11. Dezember 2008

Anmelder: National Institute of Advanced Industrial Science and Technology 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.
WO2008149616
Aktenzeichen
EP08751992
Anmeldetag
23. April 2008
Veröffentlichung
11. Dezember 2008
Rechtsraum
WO
IPC
A61B5/16A61B3/11A61B5/0484
Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma
National Institute of Advanced Industrial Science and Technology
Land
🇯🇵 Japan
🇯🇵 National Institute of Advanced Industrial Science and Technology

Staatliches japanisches Forschungsinstitut (AIST), das breit angelegte angewandte Forschung in Bereichen wie Materialwissenschaft, Energie, Elektronik und Biotechnologie betreibt.

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