Methods of isolating array features during pitch doubling processes and semiconductor device structures having isolated array features

WO2008150722 Art A1 11. Dezember 2008

Anmelder: Micron Technology, Inc. 🇺🇸

Details

Veröffentlichungs-Nr.
WO2008150722
Aktenzeichen
EP08756128
Anmeldetag
22. Mai 2008
Veröffentlichung
11. Dezember 2008
Rechtsraum
WO
IPC
H01L21/033
Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma
Micron Technology, Inc.
Land
🇺🇸 USA
🇺🇸 Micron Technology

US-amerikanisches Halbleiterunternehmen mit Sitz in Boise, Idaho. Micron entwickelt und fertigt Speicherchips wie DRAM und NAND-Flash sowie Speicherlösungen für Computer, Mobilgeräte, Rechenzentren und Automobile.

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