Semiconductor device test method

WO2008152557 Art A1 18. Dezember 2008

Anmelder: NXP B.V. 🇳🇱

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2008152557
Aktenzeichen: EP08763247
Anmeldetag: 9. Juni 2008
Veröffentlichung: 18. Dezember 2008
Rechtsraum: WO
IPC: G01R31/317G01R31/28

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: NXP B.V.
Land: 🇳🇱 Niederlande

🇳🇱 NXP Semiconductors

Niederländischer Halbleiterhersteller mit Sitz in Eindhoven. Entwickelt Chips und Halbleiterlösungen für Automobiltechnik, Kommunikation, Sicherheit sowie industrielle Anwendungen.

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Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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