Tft array inspecting device
WO2008152683
Art A1
18. Dezember 2008
Anmelder: Shimadzu Corporation 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2008152683
- Aktenzeichen
- EP07745019
- Anmeldetag
- 11. Juni 2007
- Veröffentlichung
- 18. Dezember 2008
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G01R31/00
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Shimadzu Corporation
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Shimadzu
Japanisches Technologieunternehmen mit Sitz in Kyoto. Shimadzu entwickelt Analyse- und Messgeräte, medizinische Bildgebungssysteme sowie Komponenten für Luft- und Raumfahrt, Industrie und Wissenschaft.
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