Detection of defective data sequences

WO2008155678 Art A1 24. Dezember 2008

Anmelder: NXP B.V. 🇳🇱

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2008155678
Aktenzeichen: EP08751211
Anmeldetag: 15. Mai 2008
Veröffentlichung: 24. Dezember 2008
Rechtsraum: WO
IPC: G06F11/10G11C29/00

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: NXP B.V.
Land: 🇳🇱 Niederlande

🇳🇱 NXP Semiconductors

Niederländischer Halbleiterhersteller mit Sitz in Eindhoven. Entwickelt Chips und Halbleiterlösungen für Automobiltechnik, Kommunikation, Sicherheit sowie industrielle Anwendungen.

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Fachgebiete

Akustik, Musik & Datenspeicherung Software & Datenverarbeitung

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