Optical measurement analyzing method
WO2008155854
Art A1
24. Dezember 2008
Anmelder: Shimadzu Corporation 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2008155854
- Aktenzeichen
- EP07790405
- Anmeldetag
- 21. Juni 2007
- Veröffentlichung
- 24. Dezember 2008
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G01N15/02G01N21/47
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Shimadzu Corporation
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Shimadzu
Japanisches Technologieunternehmen mit Sitz in Kyoto. Shimadzu entwickelt Analyse- und Messgeräte, medizinische Bildgebungssysteme sowie Komponenten für Luft- und Raumfahrt, Industrie und Wissenschaft.
2.214 Patente in unserer Datenbank
Fachgebiete
Vertreten von
Kein Vertreter erfasst.