Circuit, biasing scheme and fabrication method for diode accessed cross-point resistive memory array
WO2008157049
Art A1
24. Dezember 2008
Anmelder: Micron Technology, Inc. 🇺🇸
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2008157049
- Aktenzeichen
- EP08770149
- Anmeldetag
- 5. Juni 2008
- Veröffentlichung
- 24. Dezember 2008
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G11C16/02H01L27/24
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Micron Technology, Inc.
- Land
- 🇺🇸 USA
🇺🇸
Micron Technology
US-amerikanisches Halbleiterunternehmen mit Sitz in Boise, Idaho. Micron entwickelt und fertigt Speicherchips wie DRAM und NAND-Flash sowie Speicherlösungen für Computer, Mobilgeräte, Rechenzentren und Automobile.
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