Method for in-system testing of communication systems

WO2009001232 Art A1 31. Dezember 2008

Anmelder: NXP B.V. 🇳🇱

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2009001232
Aktenzeichen: EP08751161
Anmeldetag: 8. Mai 2008
Veröffentlichung: 31. Dezember 2008
Rechtsraum: WO
IPC: H04B1/30H03K5/156

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: NXP B.V.
Land: 🇳🇱 Niederlande

🇳🇱 NXP Semiconductors

Niederländischer Halbleiterhersteller mit Sitz in Eindhoven. Entwickelt Chips und Halbleiterlösungen für Automobiltechnik, Kommunikation, Sicherheit sowie industrielle Anwendungen.

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Fachgebiete

Elektronik & Schaltungstechnik Nachrichtentechnik & Telekommunikation

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