Correction circuit and test device

WO2009008458 Art A1 15. Januar 2009

Anmelder: Advantest Corporation 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2009008458
Aktenzeichen: EP08791014
Anmeldetag: 9. Juli 2008
Veröffentlichung: 15. Januar 2009
Rechtsraum: WO
IPC: H04B3/04G01R31/28

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Advantest Corporation
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Advantest

Japanisches Unternehmen mit Sitz in Tokio, Hersteller von Testsystemen für Halbleiter und elektronische Bauteile.

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Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Nachrichtentechnik & Telekommunikation

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