Dongle for functionally testing an electronic device

WO2009010919 Art A2 22. Januar 2009

Anmelder: NXP B.V. 🇳🇱

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2009010919
Aktenzeichen: EP08789304
Anmeldetag: 15. Juli 2008
Veröffentlichung: 22. Januar 2009
Rechtsraum: WO
IPC: G06F21/00

Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma: NXP B.V.
Land: 🇳🇱 Niederlande

🇳🇱 NXP Semiconductors

Niederländischer Halbleiterhersteller mit Sitz in Eindhoven. Entwickelt Chips und Halbleiterlösungen für Automobiltechnik, Kommunikation, Sicherheit sowie industrielle Anwendungen.

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Fachgebiete

Software & Datenverarbeitung

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