Integrated Circuit Having Built-In Self-Test Features

WO2009012006 Art A1 22. Januar 2009

Anmelder: ALLEGRO MICROSYSTEMS INC. 🇺🇸

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2009012006
Aktenzeichen: EP08771138
Anmeldetag: 16. Juni 2008
Veröffentlichung: 22. Januar 2009
Rechtsraum: WO
IPC: G01R31/317

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: ALLEGRO MICROSYSTEMS INC.
Land: 🇺🇸 USA

🇺🇸 Allegro MicroSystems

US-amerikanischer Halbleiterhersteller, spezialisiert auf Magnetsensoren und Leistungshalbleiter für Automobil- und Industrieanwendungen wie Motorsteuerung und Positionserfassung.

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Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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