Testing apparatus, testing method, and manufacturing method of device

WO2009016715 Art A1 5. Februar 2009

Anmelder: Advantest Corporation 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2009016715
Aktenzeichen: EP07791570
Anmeldetag: 30. Juli 2007
Veröffentlichung: 5. Februar 2009
Rechtsraum: WO
IPC: G11C29/56G01R31/28

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Advantest Corporation
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Advantest

Japanisches Unternehmen mit Sitz in Tokio, Hersteller von Testsystemen für Halbleiter und elektronische Bauteile.

610 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Akustik, Musik & Datenspeicherung Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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