Tft panel substrate inspecting device

WO2009016763 Art A1 5. Februar 2009

Anmelder: Shimadzu Corporation 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2009016763
Aktenzeichen: EP07791862
Anmeldetag: 2. August 2007
Veröffentlichung: 5. Februar 2009
Rechtsraum: WO
IPC: G01R31/00

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Shimadzu Corporation
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Shimadzu

Japanisches Technologieunternehmen mit Sitz in Kyoto. Shimadzu entwickelt Analyse- und Messgeräte, medizinische Bildgebungssysteme sowie Komponenten für Luft- und Raumfahrt, Industrie und Wissenschaft.

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Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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