Method of forming pattern and, for use therein, radiation-sensitive resin composition and resin having radiation-sensitive acid generating group

WO2009019793 Art A1 12. Februar 2009

Anmelder: JSR Corporation 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.
WO2009019793
Aktenzeichen
EP07792312
Anmeldetag
9. August 2007
Veröffentlichung
12. Februar 2009
Rechtsraum
WO
IPC
G03F7/039C08F12/04C08F20/38C08F20/58G03F7/004
Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma
JSR Corporation
Land
🇯🇵 Japan
🇯🇵 JSR Corporation

JSR Corporation ist ein japanisches Chemieunternehmen, das synthetische Kautschuke sowie Materialien für die Halbleiter- und Displayindustrie herstellt.

1.781 Patente in unserer Datenbank

Vertreten von

Kein Vertreter erfasst.

Noch Fragen?

Wir helfen Ihnen gerne weiter. Schreiben Sie uns einfach.

Kontakt aufnehmen