An Integrated Circuit Having an Analog Circuit Portion And A Method For Testing Such an Integrated Circuit

WO2009022305 Art A1 19. Februar 2009

Anmelder: NXP B.V. 🇳🇱

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2009022305
Aktenzeichen: EP08807311
Anmeldetag: 13. August 2008
Veröffentlichung: 19. Februar 2009
Rechtsraum: WO
IPC: G01R31/30G01R31/3167

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: NXP B.V.
Land: 🇳🇱 Niederlande

🇳🇱 NXP Semiconductors

Niederländischer Halbleiterhersteller mit Sitz in Eindhoven. Entwickelt Chips und Halbleiterlösungen für Automobiltechnik, Kommunikation, Sicherheit sowie industrielle Anwendungen.

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Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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