Optical inspection apparatus, pinhole inspection apparatus, film thickness inspection apparatus, and surface inspection apparatus

WO2009022538 Art A1 19. Februar 2009

Anmelder: Hamamatsu Photonics K.K. 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2009022538
Aktenzeichen: EP08791809
Anmeldetag: 29. Juli 2008
Veröffentlichung: 19. Februar 2009
Rechtsraum: WO
IPC: G01N21/894G01B11/06G01J1/42G01N21/956

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Hamamatsu Photonics K.K.
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Hamamatsu Photonics

Japanisches Unternehmen für Photonik mit Sitz in Hamamatsu, spezialisiert auf Photodetektoren, Bildsensoren, Laser und optische Messtechnik für Wissenschaft und Industrie.

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Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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