Method and apparatus for inspecting defect of laminated film

WO2009025210 Art A1 26. Februar 2009

Anmelder: Nitto Denko Corporation 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2009025210
Aktenzeichen: EP08792417
Anmeldetag: 12. August 2008
Veröffentlichung: 26. Februar 2009
Rechtsraum: WO
IPC: G01N21/892G02B5/30

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Nitto Denko Corporation
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Nitto Denko

Japanisches Materialwissenschafts- und Chemieunternehmen mit Sitz in Osaka. Nitto Denko entwickelt Klebebänder, Folien, optische Materialien für Displays sowie Membranen und Materialien für Elektronik, Automobil und Medizintechnik.

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Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Optik & Fototechnik

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