Computer-implemented methods for determining if actual defects are potentially systematic defects or potentially random defects
WO2009026358
Art A1
26. Februar 2009
Anmelder: KLA-Tencor Corporation 🇺🇸
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2009026358
- Aktenzeichen
- EP08798269
- Anmeldetag
- 20. August 2008
- Veröffentlichung
- 26. Februar 2009
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- G06F17/50
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- KLA-Tencor Corporation
- Land
- 🇺🇸 USA
🇺🇸
KLA Corporation
US-amerikanisches Unternehmen (frühere Firmierung KLA-Tencor), das Prozesskontroll- und Messsysteme für die Halbleiterfertigung entwickelt.
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