Thin film thermophysical property measuring method and thin film thermophysical property measuring apparatus

WO2009034787 Art A1 19. März 2009

Anmelder: National Institute of Advanced Industrial Science and Technology 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2009034787
Aktenzeichen: EP08791861
Anmeldetag: 30. Juli 2008
Veröffentlichung: 19. März 2009
Rechtsraum: WO
IPC: G01N25/18

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: National Institute of Advanced Industrial Science and Technology
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 National Institute of Advanced Industrial Science and Technology

Staatliches japanisches Forschungsinstitut (AIST), das breit angelegte angewandte Forschung in Bereichen wie Materialwissenschaft, Energie, Elektronik und Biotechnologie betreibt.

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Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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