Vanadium oxide thin film pattern and method of fabricating the same
WO2009035007
Art A1
19. März 2009
Anmelder: National Institute of Advanced Industrial Science and Technology 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- WO2009035007
- Aktenzeichen
- EP08830558
- Anmeldetag
- 10. September 2008
- Veröffentlichung
- 19. März 2009
- Rechtsraum
- WO
- IPC
- C01G31/02C03C17/42C23C26/00
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- National Institute of Advanced Industrial Science and Technology
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
National Institute of Advanced Industrial Science and Technology
Staatliches japanisches Forschungsinstitut (AIST), das breit angelegte angewandte Forschung in Bereichen wie Materialwissenschaft, Energie, Elektronik und Biotechnologie betreibt.
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Vertreten von
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