Display device defect detecting method and display device defect detecting device

WO2009044519 Art A1 9. April 2009

Anmelder: Nikon Corporation 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: WO2009044519
Aktenzeichen: EP08836103
Anmeldetag: 26. September 2008
Veröffentlichung: 9. April 2009
Rechtsraum: WO
IPC: G01N21/956G01B11/02G01M11/00G02F1/13G09F9/00H01L51/50H05B33/12

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Nikon Corporation
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Nikon

Japanisches Technologieunternehmen mit Sitz in Tokio. Nikon entwickelt optische Geräte und Präzisionstechnik, darunter Kameras, Objektive, Mikroskope sowie Lithografie- und Messsysteme für die Halbleiterfertigung.

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Fachgebiete

Anzeige-, Signal- & Kontrolltechnik Elektronik & Schaltungstechnik Halbleiter & Elektrische Bauelemente Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Optik & Fototechnik

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